ASTM F 28-1991 光电导衰减测量法测定大块锗和硅中少数载流子寿命的方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-28 07:14:38
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【英文标准名称】:TestMethodsforMinority-CarrierLifetimeinBulkGeraniumandSiliconbyMeasurementofPhotoconductivityDecay
【原文标准名称】:光电导衰减测量法测定大块锗和硅中少数载流子寿命的方法
【标准号】:ASTMF28-1991
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1991
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;大块;矽;硅;电子工程;寿命;锗
【英文主题词】:germanium;measurement;life(durability);electronicengineering;bulk;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:光电导衰减测量法测定大块锗和硅中少数载流子寿命的方法
【标准号】:ASTMF28-1991
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1991
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;大块;矽;硅;电子工程;寿命;锗
【英文主题词】:germanium;measurement;life(durability);electronicengineering;bulk;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
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